天平固體密度測試裝置 型號：TC-JD

產(chǎn)品特點：密度測量裝置與電子天平結(jié)合，測量精度可達(dá)千分之一。操作簡單，可實現(xiàn)固體密度的高精度測量

天平固體密度測試裝置

產(chǎn)品名稱：新鐵芯測試儀  產(chǎn)品型號：HT-35

 新鐵芯測試儀 型號：HT-35

本儀器于各種閉合（如環(huán)型）軟磁鐵芯伏安特性的測量。測量頻率為50/60Hz。初級磁化電流0-200.0mA連續(xù)可調(diào)。次級感應(yīng)電壓測量分三個量程：0 - 200.0?V、0 - 2.000mV和0 - 20.00mV。用本儀器進(jìn)行測量時，初、次級均為單匝。測試工裝利用話筒插頭穿過被測閉合鐵芯的簡便操作，即可完成快速檢驗工作。 
        本儀器是在HT-35的基礎(chǔ)進(jìn)行更新改進(jìn)，電流電壓可同時顯示。單機控制，產(chǎn)品測定值更可靠有效，適合批量快速測量 
 初級磁化電流范圍：0-200.0mA。 
? 初級磁化電流準(zhǔn)確度：+1.5%讀數(shù)值+1.5%滿度值。 
? 次級感應(yīng)電壓測量范圍：0 – 200.0 ?V（分辨率為0.1?V）;0 – 2.000 mV（分辨率為0.001mV）;0 – 20.00 mV（分辨率為0.01mV）。 
? 次級感應(yīng)電壓測量準(zhǔn)確度：  +1.5%讀數(shù)值+1.5?滿度值。 
? 電源：單相交流220V，50Hz。 
? 尺寸：320?240?140mm 
     重量：4kg

產(chǎn)品名稱：粉塵中游離二氧化硅分析儀 產(chǎn)品型號：FC2000D

粉塵中游離二氧化硅分析儀 型號：FC2000D 
產(chǎn)品介紹 
電力和煤炭行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中粉塵的種類較多, 主要有矽塵、煤塵、鍋爐塵、石棉塵、水泥塵、電焊煙塵等, 其特點是粉塵中游離二氧化硅含量較高, 粉塵的分散度也比較高, 即多為呼吸性粉塵, 因此對接塵人員的危害較大。根據(jù)生產(chǎn)性粉塵的理化性質(zhì)、空氣中濃度、進(jìn)入人體的量和作用部位, 產(chǎn)生的危害也有不同, 主要包括鼻炎、咽炎、氣管炎、支氣管炎等呼吸系統(tǒng)疾病。我國政府以及電力和煤炭行業(yè)部門對防塵工作高度重視, 因此, 加強對粉塵中游離二氧化硅含量的檢測是一件非常重要和緊迫的工作。以往檢測粉塵中游離二氧化硅含量, 均采用《作業(yè)場所空氣中粉塵測定方法》(GB5748—85) 規(guī)定的“焦磷酸重量法”, 該方法存在操作步驟復(fù)雜、使用試劑種類繁多、檢測周期長、準(zhǔn)確性差、試驗室條件要求苛刻等一系列問題, 難以滿足現(xiàn)場批量檢測的要求。 

我國測定作業(yè)場所粉塵中游離二氧化硅很多仍沿用焦磷酸重量法，該法需用試樣量大,一般只能測定礦(巖)石或自然降塵樣,對呼吸性粉塵中的游離二氧化硅尚無法直接測定。國外常用 X—射線衍射法和紅外法。由于紅外法的儀器價格較便宜,也不會產(chǎn)生對人體有害的放射性輻射,故很受重視。美英等國已把紅外法作為測定煤塵中游離二氧化硅的標(biāo)準(zhǔn)方法。為了提高檢測的準(zhǔn)確性, 實現(xiàn)批量檢測的目的,根據(jù)紅外光譜法原理專門研制 FC-2000D 粉塵中游離二氧化硅分析儀用來檢測粉塵中游離二氧化硅含量。 

儀器特點 

1.在國內(nèi)次采用計算機直接比例記錄原理 

2.采用一塊高能量的雙閃耀光柵覆蓋整個工作波段 

3.采用計算機進(jìn)行儀器控制和數(shù)據(jù)處理 

4.配備中文操作軟件 

5.采用真空熱電偶紅外接收器件，保證了儀器的高性能和可靠性 

6.計算機系統(tǒng)可以脫機單獨使用 

7．結(jié)構(gòu)簡單、便于調(diào)整及測量、靈敏度高、穩(wěn)定性好、價格低廉等優(yōu)點 

數(shù)據(jù)處理功能 

具有光譜背景基線記憶、光譜背景基線校正、光譜數(shù)據(jù)平滑運算、光譜基線傾斜校正、光譜數(shù)據(jù)微分運算、光譜數(shù)據(jù)四則運算、光譜數(shù)據(jù)累加運算、%T 與 ABS 轉(zhuǎn)換、光譜文件管理、光譜縫值檢出、光譜刻度擴展、光譜吸收擴展等功能。 

參數(shù)指標(biāo) 

※ 波長范圍 4000-400cm-1(2.5-25um) 

※ 波數(shù)精度 ≤± 4cm-1 （4000-2000cm-1  ） 

≤± 2cm-1 （2000-400cm-1） ※ 分辨能力 ≤1.5cm-1(1000cm-1)附近 


※ 透過率精度 ±0.2%T(不含噪聲電平) 

※ Io 線平直度 ≤±2%T 

※ 雜散光 ≤0.5%T（4000-650cm-1）≤1%T（650-400cm-1） 
※ 橫坐標(biāo)擴展 任選 

※ 縱坐標(biāo)擴展 任選 

※ 測試模式 三種（透過率、吸光度、單光束） 

※ 掃描速度 五檔（很快、快、正常、慢、很慢） 

※ 狹縫寬度 五檔（很寬、寬、正常、窄、很窄） 

※ 響應(yīng) 四檔（很快、快、正常、慢）